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產品型號：
更新時間：2024-12-07簡要描述：LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀，KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術，操作簡便。還包括通過解鎖代碼進行快速現場升級的選項。
| 品牌 | 其他品牌 | 產地 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 產品新舊 | 全新 |
| KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042技術數據 | |
| 串行接口 | 用于將數據傳輸到RS232或USB |
| 電源 | 通過電池，USB或電源裝置 |
| 測量范圍 | 0-20000 µm（取決于探頭） |
| 測量率 | 每秒高達2個讀數 |
| 存儲 | 最高 9999個讀數（最多140個文件） |
| 測量不確定度 （校準后） | 涂層厚度<100 µm：讀數的1％+/- 1 µm 涂層厚度> 100 µm：讀數的1.0.3％+/- 1 µm 涂層厚度> 1000 µm：讀數的3..5％ /-10 µm 涂層厚度> 10000 µm：讀數的5％+ /- 100 µm |
| KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042附件 | |
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